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x射線發生裝置角度校準的光學新方法
目前x射線發生裝置的角度檢定和校準測試主要依據JJG 629—1989《多晶X射線衍射儀檢定規程》和JB/T 9400—2010《X射線衍射儀技術條件》等技術文件，具體方法是采用光學經緯儀或多面棱體等進行測試，該測量方法實際應用中存在一定難度，其次測量間隔較大，不能很好反映真實的角度誤差規律.為此，提出了利用θ角和2θ角同軸并可獨立運動的特點，組合采用光電自準直儀和小角度激光干涉儀等儀器，中能x射線發生裝置公司，設計了一種新的XRD的角度校準方法，它能夠自動快速地連續測量角度，取k=2時，擴展不確定度約1.2″.使用該方法測試能夠得到θ和2θ軸的誤差數據，可用于修正XRD測角誤差，提高XRD測試精度.該方法也適用于同步輻射等大型衍射系統等其他需要角度校準的情況.
x射線發生裝置使用范圍：
金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業廢棄物；有機材料：品、工程塑料、各種樹脂等。利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感、氣體電離，測定物質的晶體結構，中能x射線發生裝置哪家好，織構及應力，的進行物相分析，定性分析，定量分析。
x射線發生裝置用途
1、科學研究和發展材料，這項工作涉及研究各種物質的特性和使用，如金屬，陶瓷和塑料，應用范圍從空間科學和科技到消費類產品。X射線衍射（XRD）是研究材料的主要技術，包括下列功能：相的識別和定量，相的結晶度判定，晶體結構，中能x射線發生裝置，晶體取向和織構，極圖等。這些功能的非環境條件影響也同XRD技術一起經常研究。搜索可針對各種樣品類型，從粉末到各種形狀和尺寸的固體材料，中能x射線發生裝置多少錢，液體和半導體晶片。
2、地質，礦產和在研究行星進程和地球構造過程中，地理學家們需要分析巖石和礦物樣品的組成。分析技術如：小點激發，分布分析和無標定量分析，日漸成為地質研究及礦物學研究領域內的主要儀器。
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第6年
